رشد و مشخصه یابی نانوساختارهای سولفید کادمیم
thesis
- وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود - دانشکده علوم پایه
- author مهدیه ظهوری تالی
- adviser حسین عشقی منصور عرب چم جنگلی
- Number of pages: First 15 pages
- publication year 1390
abstract
با توجه به کاربردهای وسیع نیمرسانای کادمیوم سولفید (cds)، در این تحقیق به رشد لایه های نانوساختار این ماده بر روی زیرلایه شیشه به روش رسوب در حمام شیمیایی (cbd) پرداخته و تاثیر پارامترهای گوناگون از جمله مدت زمان رشد و ph محلول را بر خواص نمونه ها مطالعه نموده ایم. همچنین تاثیر فرآیند حک مرطوب شیمیایی و مولاریته و دمای اسید در محلولِ حک نیز بر خواص فیزیکی نمونه های رشد یافته مورد بررسی قرار گرفته است. نمونه های رشد داده شده به روش های مختلف تحت مشخصه یابی قرار گرفته اند که عبارتند از: بررسی خواص اپتیکی با اندازه گیری طیف عبوری (uv-vis) ، آنالیز ساختاری به کمک طیف پراش پرتو ایکس (xrd)، مورفولوژی سطحی از طریق عکس برداری با میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) و آنالیز ترکیب شیمیایی لایه ها با اندازه گیری طیف edx. نتایج بدست آمده گویای آن است که خصوصیات فیزیکی لایه ها از جمله: ریخت نانوساختارهای سطح، خواص ساختاری (آمورف/بسبلور) و پارامترهای وابسته به خواص اپتیکی (ضریب عبور نوری، گاف نواری، دنباله نواری) تا حد زیادی متاثر از پارامترهای رشد می باشد. بنابراین با بهینه سازی شرایطِ رشد می توان لایه های نانوساختاری این ماده را با کیفیتی مطلوب، جهت انواع کاربردها تولید نمود.
similar resources
رشد نانوساختارهای اکسیدروی به روش احیاء کربوترمالی بر روی نانوصـفحه مس : مشخصه یابی اپتیکی و ساختاری
در این پژوهش نانوساختارهای اکسید روی با روش احیاء کربوترمال روی نانو‌صفحه‌ای از مس که با روش کندوپاش مگنترونی روی بستر سیلیکونی نشانده شد، رشد داده شدند و نانوساختارهای حاصل از لحاظ ریخت سطحی با میکروسکوپ الکترونی روبشی اثر-میدانی (FE SEM ) و از لحاظ ساختاری با XRD و از لحاظ نورتابی با لامپ UV و همچنین از لحاظ جذب وبازتاب نور با طیف سنج UV-Vis-NearIR آنالیز شدند و تراکم عنصری با کمک طیف‌سنجی...
full textرشد و مشخصه یابی لایه های نازک و نانوساختارهای سولفید مس (cuxs)
در این تحقیق تجربی مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و الکتریکی و ترموالکتریکی نانوساختارهای سولفید مس (cus) رشد داده شده در شرایط مختلف به روش اسپری پایرولیزیز را مورد بررسی قرار داده ایم. در این مطالعه از دستگاه های مختلف برای مشخصه یابی فیزیکی نمونه های رشد داده شده استفاده کردیم. این دستگاه ها عبارتند از: میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی (fesem)، پراش اشعهx (xrd) و طیف سنجی uv-vis-nir، ان...
15 صفحه اولرشد نانوساختارهای اکسیدروی به روش احیاء کربوترمالی بر روی نانوصـفحه مس : مشخصه یابی اپتیکی و ساختاری
در این پژوهش نانو ساختارهای اکسید روی با روش احیاء کربوترمال روی نانو صفحه ای از مس که با روش کندوپاش مگنترونی روی بستر سیلیکونی نشانده شد، رشد داده شدند و نانو ساختارهای حاصل از لحاظ ریخت سطحی با میکروسکوپ الکترونی روبشی اثر-میدانی (fe sem ) و از لحاظ ساختاری با xrd و از لحاظ نورتابی با لامپ uv و همچنین از لحاظ جذب وبازتاب نور با طیف سنج uv-vis-nearir آنالیز شدند و تراکم عنصری با کمک طیف سنجی ...
full textرشد و مشخصه یابی لایه های نازک سولفید روی
در این پایان نامه خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک سولفید روی رشد داده شده با استفاده از روش سل - ژل چرخشی و غوطه وری بر روی زیرلایه هایی از جنس شیشه و کوارتز مورد بررسی قرار گرفت. طیف های xrd ثبت شده از سطح نمونه ها و نیز تصاویر sem نمونه ها نشان داد که تغییر روش انباشت تأثیری بر بلورینگی لایه ها نداشته است و نمونه های رشد داده شده به روش سل - ژل چرخشی نسبت به نمونه های رشد داده شده به روش ...
15 صفحه اولرشد و مشخصه یابی نانوساختارهای مبتنی بر سیلیکون
در این تحقیق تجربی، مورفولوژی به همراه آنالیز عنصری، خواص ساختاری و اپتیکی نانوساختارهای اکسید سیلیکون رشد داده شده به روش جایگذاری بخار شیمیایی (cvd) بر روی ویفر سیلیکون را مورد بررسی قرار داده ایم. در این مطالعه از دستگاه های میکروسکوپ الکترونی گسیل گرمایونی (sem)، پراش پرتو ایکس (xrd) و فوتولومینسانس (pl) استفاده کرده ایم. در نمونه های سنتز شده در این روش، نانو ساختارهای اکسید سیلیکون با اس...
رشد و مشخصه یابی نانوساختارهای دی اکسید تیتانیوم (tio2)
در این تحقیق مورفولوژی، خواص ساختاری، اپتیکی و فوتوالکتروشیمیایی نانوساختارهای دی-اکسیدتیتانیوم (2tio) رشد داده شده به روش آندیزاسیون شیمیایی را بر روی ورقه تیتانیوم مورد بررسی قرار دادیم. در این بررسی برای مشخصه یابی نمونه های خود از دستگاه های مختلف شامل: میکروسکوپ الکترونی روبشی گسیل میدانی( fesem)، پراش پرتو x (xrd)، فوتولومینسانس (pl) و اندازه گیری جریان-ولتاژ استفاده کرده ایم. نمونه ها...
15 صفحه اولMy Resources
document type: thesis
وزارت علوم، تحقیقات و فناوری - دانشگاه صنعتی شاهرود - دانشکده علوم پایه
Hosted on Doprax cloud platform doprax.com
copyright © 2015-2023